欢迎来到北京中交工程仪器研究所网站!
咨询热线

4000-010-890

当前位置:首页  >  技术文章  >  涂层测厚仪的测量原理介绍

涂层测厚仪的测量原理介绍

更新时间:2024-01-31  |  点击率:812
  涂层测厚仪可*损地测量磁性金属基体(如钢、铁、合金和硬磁性钢等)上非磁性涂层的厚度(如铝、铬、铜、珐琅、橡胶、油漆等) 及非磁性金属基体(如铜、铝、锌、锡等)上非导电覆层的厚度(如:珐琅、橡胶、油漆、塑料等)。既可用于实验室,也可用于工程现场。
  涂层测厚仪的测量原理:
  1、磁性法当测头与覆层接触时,测头与磁性金属基体构成一闭合磁路,由于非磁性覆层的存在,使磁路磁阻发生变化,通过测量其变化量,可测得其覆层的厚度。
  2、涡流法利用高频交变电流线圈中产生一磁场,当测头与金属接触时,金属基体上会产生涡流,并对测头具有反馈作用,通过其反馈作用的大小可测出覆层厚度。
  涂层测厚仪作为调零用的外表面须要尽量维持光滑,假如外表面不光滑,该当视状况取平均值,由于外表面粗糙度对测量的数值影响较大。构造不同应分别实行调零测量,平面调零侧脸平面,测量凹面调零后测量,测量凸面调零后实行测量,防止因为构造不同而在测量上发生误差。